“雙85"是一個(gè)在工業(yè)界，特別是電子、電工、光伏、汽車、涂料等領(lǐng)域非常常見(jiàn)且重要的環(huán)境可靠性測(cè)試。
一、核心定義
“雙八五"指的是兩個(gè)核心的環(huán)境條件：
1.溫度：+85℃
2.相對(duì)濕度：85%RH
“恒定試驗(yàn)"指的是這兩個(gè)條件（85℃& 85%RH）在測(cè)試過(guò)程中是持續(xù)保持恒定的，與“高低溫循環(huán)試驗(yàn)"（溫度在高低溫之間來(lái)回變化）相區(qū)別。
因此，雙八五恒定試驗(yàn)就是指將樣品長(zhǎng)時(shí)間放置在恒定的85℃高溫和85%高濕環(huán)境中，以評(píng)估其在ji端濕熱條件下的耐久性、可靠性和潛在故障的試驗(yàn)。
二、試驗(yàn)?zāi)康呐c意義
這個(gè)測(cè)試的主要目的是模擬惡劣的濕熱環(huán)境，通過(guò)加速老化的方式來(lái)評(píng)估產(chǎn)品或材料的耐濕熱可靠性。具體來(lái)說(shuō)，它旨在發(fā)現(xiàn)以下問(wèn)題：
1.材料老化與降解：
塑料、橡膠等高分子材料是否會(huì)變脆、變形、開裂或發(fā)生顏色變化。
涂料、鍍層是否會(huì)起泡、剝落、失去光澤。
2.金屬部件的腐蝕：
引線、焊點(diǎn)、PCB銅箔、連接器等金屬部件在高溫高濕環(huán)境下會(huì)加速氧化和電化學(xué)腐蝕。
3.元器件失效：
濕度侵入芯片內(nèi)部，導(dǎo)致內(nèi)部電路短路或腐蝕（俗稱“爆米花"效應(yīng)）。
電解電容等對(duì)溫度敏感的元器件性能衰減或失效。
4.絕緣性能下降：
高濕度會(huì)降低PCB板、變壓器、電機(jī)繞組等的絕緣電阻，可能導(dǎo)致高壓擊穿或漏電，存在安全隱患。
5.界面分層：
不同材料（如芯片與封裝體、PCB與焊點(diǎn)）之間的結(jié)合界面在濕熱應(yīng)力下可能因膨脹系數(shù)不同而開裂、分離。
簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)，這個(gè)測(cè)試就像一個(gè)“壓力測(cè)試"或“照妖鏡"，能在短時(shí)間內(nèi)暴露出產(chǎn)品在潮濕炎熱環(huán)境下使用數(shù)年才可能出現(xiàn)的問(wèn)題。
三、試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
雙85試驗(yàn)通常依據(jù)國(guó)際或國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行，以確保測(cè)試的規(guī)范性和結(jié)果的可比性。常見(jiàn)標(biāo)準(zhǔn)包括：
JEDEC JESD22-A101：半導(dǎo)體器件的穩(wěn)態(tài)濕熱壽命試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
IEC 60068-2-66：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T 2423.3：中國(guó)的電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程，試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)。
注：標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的溫濕度組合有多種，如（40±2）℃，（93±3）%RH 或 （85±2）℃，（85±5）%RH等，“雙85"是其中非常嚴(yán)酷的一種。
